1.植物冠层分析仪的直接测量法和间接测量法优缺点

　　直接测量法通过先测定所有叶片的叶面积，再计算LAI，因要剪下全部待测叶片，多数属于毁坏性测量，或至少会干扰冠层，叶片角度的分布，从而影响数据的质量，直接测量费时、费力。

　　间接测量法是利用冠层结构与冠层内辐射与环境的相互作用这一定量耦合关系，通过植被冠层的辐射转移模型来推断LAI，可以避免直接测量法所造成的大规模破坏植被的缺点，不受时间的限制，获取数据量大，仪器容易操作，方便快捷，还可以测定一年中森林冠层LAI的季节变化。

　　2.植物冠层分析仪测量LAI的原理及理想光照条件

　　当光线透过植物冠层时，由于受到叶片和枝干的阻拦，辐射强度会迅速消减，根据其消减程度就可推算出植物的叶量。冠层分析仪便是依据此原理，通过测量植被冠层以上（A）和植被冠层以下（B）5个角度的透射光线，利用植被树冠的辐射转移模型计算LAI。理想的光照条件是均匀的阴天或者散射光照下，易找到合适的测量时间往往是黎明之前和日落之后的瞬间。作为一般原则，如果可以看到地上的影子或者林冠上有阳光照射的叶子，这时的天空的光照条件就没有满足。

　　3.植物冠层分析仪的不同测量模式

　　单传感器模式：适合测量可将传感器置于冠层之上的低矮植被类型，如低矮灌木、农作物和草本植物，但也可以用于高大森林植被类型的测定；

　　双传感器模式：用于森林测量或作物测量，其中一个传感器固定在冠层上部，需要增加长的扩展线；

　　遥测模式：主要用于缺少空地的森林。

　　4.测量乔木林下的灌木层的LAI

　　先测定乔木层的LAI，然后测定灌木层和乔木层的LAI，两者之差即为灌木层的LAI。